Сен 11

Информация для студентов гр. ОИБ-610 и ОИБ-611

Основы технической эксплуатации ЗТКС. Информация для студентов гр. ОИБ (ОИБ-610 и ОИБ-611) 6-го курса (2011 г.).

Ниже  список вопросов, доступен и в виде файла по ссылке http://mctrewards.ru/files/ztks2011.doc .

Практическая часть.

Пример 10.1. стр. 369

Пример 10.5.3. стр. 379

Материалы к курсу http://mctrewards.ru/files/ztks-book.zip. Были подготовлены оперативно, поэтому качество среднее. Может быть улучшено после самостоятельной обработки существующих файлов. При желании можно подготовить самим, имея исходник. Если сделаете лучший вариант, то размещу вместо этого. Так как информация не предназначена для широкого круга людей, то архив под паролем. Если пароль не знаете, обращайтесь – сообщу.

Основы технической эксплуатации ЗТКС
Вопросы. 2011 г. (осень)

  1. Надежность. Работоспособность. Отказ. Неисправность. Восстановление.
  2. Безотказность. Ремонтопригодность. Сохраняемость. Долговечность. Система и элемент. Критерии и показатели надежности.
  3. Невосстанавливаемые и восстанавливаемые изделия.
  4. Факторы, влияющие на надежность аппаратно-программного комплекса.
  5. Модели надежности. Понятие о математической модели надежности. Модели безотказности элемента. Экспоненциальное распределение. Гамма-распределение. Распределение Вейбулла. Равномерное распределение.
  6. Постановка задачи оценки надежности АПК с учетом характеристик программного и информационного обеспечения.
  7. Общая схема проектной оценки надежности программного комплекса. Расчет исходного числа дефектов. Расчет остаточного числа дефектов после автономной отладки.
  8. Расчет остаточного числа дефектов после комплексной отладки. Оценка вероятности проявления дефекта при однократном выполнении ФСО.
  9. Оценка вероятности проявления дефектов при многократном выполнении ФСО. Оценка показателей надежности системы с учетом случайного потока инициирующих событий.
  10. Факторные модели. Модели распределения числа дефектов в алгоритмах и базах данных.
  11. Модели эффективности отладки. Модели потоков инициирующих событий.
  12. Вероятность проявления дефекта при однократном выполнении ФСО. Вероятность проявления дефекта при многократном выполнении ФСО.
  13. Вероятность безотказной работы ПК в режиме МКЦП при случайном потоке инициирующих событий. Учет процедуры парирования ошибок.
  14. Краткое описание аппаратно-программного комплекса. Оценка исходного числа дефектов. Оценка числа дефектов ФПО по подсистемам до автономной отладки. Оценка остаточного числа дефектов после автономной отладки.
  15. Оценка остаточного числа дефектов после комплексной отладки. Оценка вероятности проявления дефекта при однократном и многократном выполнении ФСЩ после КО. Поток инициирующих событий. Вероятность безотказной работы ПК.
  16. Оценка надежности программного комплекса по результатам отладки и нормальной эксплуатации.  Экспоненциальная модель Шумана.
  17. Оценка надежности программного комплекса по результатам отладки и нормальной эксплуатации.  Экспоненциальная модель Джелинского-Моранды. Геометрическая модель Моранды.
  18. Оценка надежности программного комплекса по результатам отладки и нормальной эксплуатации.  Модель Шика-Волвертона. Модель Липова. Модель Мусы-Гамильтона.
  19. Оценка надежности программного комплекса по результатам отладки и нормальной эксплуатации.  Вейбулловская модель (модель Сукерта). Модель Уолла-Фергюссона.
  20. Оценка надежности программного комплекса по результатам отладки и нормальной эксплуатации.  Структурная модель Нельсона. Структурная модель роста надежности (модель Иыуду).
  21. Оценка надежности программного комплекса по результатам отладки и нормальной эксплуатации.   Гиперболическая модель роста надежности.
  22. Модели оценки надежности программного обеспечения по результатам отладки и нормальной эксплуатации. Модели “черного ящика” и “белого ящика”. Экспоненциальная модель Шумана и структурная модель Нельсона, как примеры моделей двух названных типов.
Поделитесь статьей со своими друзьями
Общайтесь со мной:
comments: Closed tags:

Comments are closed.